An approach to nano-chemical analysis through NC-AFM technique

Suzuki S.; Koike Y.; Fujikawa K.; Matsudaira N.; Nakamura M.; Chun W.-J.; Nomura M.; Asakura K.

タイトル	en An approach to nano-chemical analysis through NC-AFM technique
作成者	en Suzuki, S. en Koike, Y. en Fujikawa, K. en Matsudaira, N. en Nakamura, M. en Chun, W.-J. en Nomura, M. en Asakura, K. NRID 1000060175164
アクセス権	open access
主題	Other en XANAM Other en NC-AFM Other en Oxide surface NDC 428
内容注記	Abstract en We have measured the NC-AFM frequency shift dependence on the X-ray energy around the Au L3 absorption edge energy. We found a peak in the frequency shift just above the Au region at the Au L3 absorption edge energy while we could not detect any peak in the frequency shift when the NC-AFM tip was placed above the Si regions. This novel phenomenon indicated that the combination of energy-variable X-rays and NC-AFM provides us a new way to nano level chemical mapping at surface. We briefly discussed some possible mechanisms.
出版者	en Elsevier B.V.
日付	Issued2006-09-30
言語	eng
資源タイプ	journal article
出版タイプ	AM
資源識別子	HDL http://hdl.handle.net/2115/15417
関連	URI http://www.sciencedirect.com/science/journal/09205861 isVersionOf DOI https://doi.org/10.1016/j.cattod.2006.05.008
収録誌情報	PISSN 0920-5861 en Catalysis Today 巻117 号1-3 開始ページ80 終了ページ83
ファイル	fulltext 5WCOC_OA105szk_hokudai_revBW.pdf 701.09 KB (application/pdf) Issued2006-09-30
コンテンツ更新日時	2023-07-26