Detection of defect levels in vicinity of Al₂O₃/p-type GaN interface using sub-bandgap-light-assisted capacitance-voltage method
Akazawa, Masamichi | Tamamura, Yuya | Nukariya, Takahide | Kubo, Kouta | Sato, Taketomo | Narita, Tetsuo | Kachi, Tetsu
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収録誌名Journal of Applied Physics
巻 132 号 19 開始ページ 195302
- 日付 2022-11-16
北海道大学学術成果コレクション北海道大学